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008 980518s1974 nyua b 10100 eng
020 _a030630791X
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041 _aENG
050 0 _aTN690.7
_bM47
082 _a669/.95/028
245 0 0 _aMetallographic specimen preparation: optical and electron microscopy /
_ced. by James L. McCall and William M. Mueller
300 _aviii, 358 páginas :
_bilustraciones ;
500 _aProcediente de una conferencia realizada por la International Metallographic Society y la American Society for Metals y celebrada en Beverly Hills, Calif., Sept. 23-24, 1973
504 _aIncluye referencias bibliograficas.
650 0 _aModelos metalograficos
_vCongresos
650 0 _aMetalografía electrónica
_vCongresos
700 1 0 _aMcCall, James L.,
_eeditor
700 1 0 _aMueller, William M.,
_eeditor
710 2 0 _aInternational Metallographic Society
710 2 0 _aAmerican Society for Metals
264 1 _aNew York :
_bPlenum,
_c[1974]
336 _atexto
_2rdacontent
337 _asin medio
_2rdamedia
338 _avolumen
_2rdacarrier
999 _c2001
_d2001