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Advanced computing in electron microscopy / Earl J. Kirkland

por Kirkland, Earl J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum Press, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 K57.

Advances in scanning probe microscopy / T. Sakurai, Y. Watanabe (eds.)

por Sakurai, Toshio, 1945- [editor] | Watanabe, Yousuke, 1938- [editor].

Series Advances in materials research ; v. 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S33 A38.

Adventures with a microscope / By Richard headstrom

por Headstrom, Richard, 1902-1985 [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Dover, 1977Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH205 H42.

Analytical electron microscopy, 1981 / Roy h. geiss, ed.

por Geiss, Roy H [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: San francisco, california : San Francisco, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 A53.

The application of electron microscopy to materials science : proceeding of an international workshop , held in China, Gauonzhou, august 1988 / edited K. H. Kuo

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Liechtenstern : Trans Tech Publications, [198-?]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC373.E4 A60.

Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns / D.J. Dingley, K.Z. Baba-Kishi, V. Randle

por Dingley, David J [autor] | Baba-Kishi, Karim Z [autor] | Randle, V [autor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol, Englad : Institute of Physics, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 D55.

Atomic force microscopy/ Scanning tunneling microscopy / Ed. by Samuel h. Cohen, mona t. bray and marcia l. lightbody

por Cohen, Samuel H [editor] | Bray, Mona T [editor] | Lightbody, Marcia L [editor] | Estados Unidos (1993 : Natick, Massachusetts).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Plenum, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.A78 A76.

Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad

por Haugstad, Greg, 1963- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, 2012Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.A78 H38, ...

Atomic force microscopy in liquid : biological applications / edited by Arturo M. Baró and Ronald G. Reifenberger

por Baró, Arturo M [editor de la compilación] | Reifenberger, Ronald G [editor de la compilación].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim : Wiley-VCH, [2012]Fecha de copyright: ©2012Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.A78 A764.

Atomic force microscopy-scanning tunneling microscopy 2 / ed. by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody

por Cohen, Samuel H [editor] | Lightbody, Marcia L [editor] | Estados Unidos (2 : 1994 : Natick, Massachusetts).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: New York : Plenum, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.A78 A765.

Backscattered scanning electron microscopy and image analysis of sediments and sedimentary rocks / David H. Krinsley ... [y otros.]

por Krinsley, David Henry, 1927- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Cambridge, United Kingdom : Cambridge University Press, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QE471 B33.

Bringing scanning probe microscopy up to speed / by S.C. Minne, S.R. Manalis, C.F. Quate

por Minne, Stephen C [autor] | Minne, S. C [editor] | Manalis, Scott R [editor] | Quate, Calvin F, 1923- [editor].

Series Microsystems ; 3Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston, Massachusetts : Kluwer, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S33 M55.

Computer-assisted microscopy : The measurement and analysis of images / John c. russ

por Russ, John C [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Plenum, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA1632 R87.

Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials / edited by Mario Lanza

por Lanza, Mario [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim, Germany : Wiley-VCH, [2017]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.A78 C65.

Cryopreparation of thin biological specimens for electron microscopy : Methods and applications / Norbert Roos and A. John Morgan

por Roos, Norbert [autor] | Morgan, A. John [autor].

Series Microscopy handbooks ; 21 | Oxford science publicationsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Oxford University Press : Royal Microscopical Society, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH324.9C7 R66.

Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy : symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A. / eds., Mehmet Sarikaya, H. Kumar Wickramasinghe, Michael Isaacson

por Sarikaya, Mehmet [editor] | Wickramasinghe, H. Kumar [editor] | Isaacson, Michael Saul [editor] | Materials Research Society.

Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 332Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.8N35 D47.

Diffraction and imaging techniques in material science / Editors s. amelinckx, r. gevers, j. van landuyt

por Gevers, R [editor] | Landuyt J Van [editor] | Amelinckx, S [editor] | International Summer Course and Material Science (1969 : Antwerp, Nueva York).

Edición: 2 # rev. ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam, holanda : North-holland, 1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA417.23 D52 1978, ...

Dynamic experiments in the electron microscope / E. P. Butler, K. F. Hale

por Butler, E. P [autor] | Hale, Kay F [autor].

Series Practical methods in electron microscopy ; v. 9Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 P7.

Electrochemical nanotechnology : in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces / edited by W.J. Lorenz and W. Plieth

por Lorenz, W. J [editor] | Plieth, Waldfried [editor] | Unión Internacional de Química Pura y Aplicada.

Tipo de material: Texto Texto Idioma: ENG Editor: Weinheim, Chichester : Wiley-VCH, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: T174.7 E54.

Electron beam analysis of materials / M. h. loretto

por Loretto, M. H [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Chapman and Hall, 1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 L66.

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