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		Backscattered scanning electron microscopy and image analysis of sediments and sedimentary rocks / David H. Krinsley ... [y otros.] por Krinsley, David Henry, 1927- [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Cambridge, United Kingdom : Cambridge University Press, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QE471 B33. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Patrick Echlin por Echlin, Patrick [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, 2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.S3 E34, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications / edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang por Zhou, Weili [editor] \| Wang, Zhong Lin [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, 2007Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3 S35. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)