Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Robert Edward Lee
Tipo de material: TextoEditor: Englewood cliffs, new jersey : Ptr prentice hall, 1993Descripción: 458 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0138137595Tema(s): Microanalisis electronico explorador | Microanálisis por rayos XClasificación LoC:QH212.S3 | L44Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | QH212.S3 L44 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1356 |
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