Universidad Nacional Autónoma de México
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Celestial mechanics : A computational guide for the practitioner / Laurence g. taff

por Taff, Laurence G, 1947- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QB351 T34.

Ellipsometry for industrial applications / Karl riedling

por Riedling, Karl, 1948- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Wien : Springer Verlag, c1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7872.P45 R54.

Frequency-resolved optical gating : the measurement of ultrashort laser pulses / Rick Trebino

por Trebino, R [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC689.5L37 T74.

Fundamentals of instrumentation and measurement / edited by Dominique Placko

por Placko, Dominique [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Lenguaje original: Francés Editor: London : ISTE, 2007Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: T50 F85.

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij

por Pecharsky, Vitalij K [autor] | Zavalij, Peter Y [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York, New York : Springer Verlag, 2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QC482.D5 P43, ...

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij

por Pecharsky, Vitalij K [autor] | Zavalij, Peter Y [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York, New York : Springer Verlag, c2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.D5 P43 2009.

Gas chromatography in air pollution analysis / Viktor g. berezkin and yuri s. drugov

por Berezkin, Viktor Grigor'evich, 1931- [autor] | Drugov, Lurii Stepanovich [autor].

Series Journal of chromatography library ; v. 49Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Amsterdam : Elsevier, 1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TD890 B47.

Handbook of applied photometry / editor, Casimer DeCusatis

por DeCusatis, Casimer [editor] | American Institute of Physics | Optical Society of America.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Woodbury, New York : American Institute of Physics : Optical Society of America, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA1520 H348, ...

Instrument science and technology / edited by Barry E. Jones

por Jones, Barry E [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol : A. Hilger, 1982-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QC100.5 I57, ...

Introduction to radiometry / William L. Wolfe

por Wolfe, William L [autor] | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.

Series Tutorial texts in optical engineering ; TT 29Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Bellingham, Washington : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC475 W56.

Introduction to X-ray powder diffractometry / Ron Jenkins and Robert L. Snyder

por Jenkins, Ron, 1932- [autor] | Snyder, Robert L, 1941- [autor].

Series Chemical analysis ; v. 138Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.D5 J45.

Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena

por American Vacuum Society.

Tipo de material: Recurso continuo Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: New York, N.Y. : American Institute of Physics, 1991-Otro título: Journal of vacuum science and technology. B, Microelectronics and nanometer structures | Microelectronics and nanometer structures | JVSTB (New York, N.Y.).Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (51).

Measurement and instrumentation : theory and application / Alan S. Morris, Reza Langari

por Morris, Alan S, 1948- [autor] | Langari, Reza [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Waltham, Massachusetts : Academic Press, c2012Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: T50 M674, ...

The Measurement, instrumentation, and sensors handbook / ed.-in-chief, John G. Webster

por Webster, John G, 1932- [editor] | Institute of Electrical and Electronics Engineers.

Series The electrical engineering handbook seriesTipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boca Raton, Florida : CRC Press : IEEE, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC39 M427.

Memorias : SOMI XII Congreso de Instrumentacion San Luis Potosi, S.L.P., Mexico septiembre-octubre, 1997 / organizadores Sociedad Mexicana de Instrumentacion...[y otros.]

por Congreso de Instrumentacion (12 : 1997 : San Luis Potosi, Mexico) | Sociedad Mexicana de Instrumentacion.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: México : Sociedad Mexicana de Instrumentacion, [1998?]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TJ148 C65 1997.

Optical radiation detectors / Eustace l. dereniak, devon g. crowe

por Dereniak, Eustace L [autor] | Crowe, Devon G [autor].

Series Wiley series in pure & applied optics, issn 0277-3493Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC338 D47.

Photometry and radiometry for engineers / Allen Stimson

por Stimson, Allen [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : J. Wiley, c1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC475 S75.

Radiometry and the detection of optical radiation / Robert w. boyd

por Boyd, Robert W, 1948- [autor].

Series Wiley series in pure and applied optics, issn 0277-2493Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1983Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC475 B68.

Selected papers on optical methods in surface metrology / David J. Whitehouse, ed.

por Whitehouse, David J [editor].

Series SPIE milestone series ; v. MS 129Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Bellingham, Washington : SPIE Optical Engineering, c1996Otro título: Optical methods in surface metrology.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA418.7 S45 1996.

Selected papers on radiometry / Irving J. Spiro, ed.

por Spiro, Irving J [editor].

Series SPIE milestone series ; v. MS 14Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Bellingham, Washington : SPIE Optical Engineering, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC475 S43 1990.

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