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The Encyclopedia of mass spectrometry / edited by Michael L. Gross and Richard Caprioli

por Gross, Michael L [editor] | Caprioli, Richard M [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Elsevier, 2003-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (4)Clasificación: QD96.M3 E53, ...

Mass spectrometry : principles and applications / Edmond de Hoffmann, Vincent Stroobant

por Hoffmann, Edmond de [autor] | Stroobant, Vincent [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Chichester, England : J. Wiley, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.M3 H6413 2001.

Plume analysis in laser desorption and ablation : basics for ambient ionization / Xing Fan, Xian-Yong Wei, Zhi-Min Zong

por Fan, Xing [autor] | Wei, Xian-Yong [autor] | Zong, Zhin-Min [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Saarbrücken, Germany : LAP LAMBERT Academic Publishing, [2012]Fecha de copyright: ©2012Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA1715 F358.

Practical inductively coupled plasma spectroscopy / John R. Dean

por Dean, John R [autor].

Series Analytical techniques in the sciencesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hoboken, New Jersey : Wiley, 2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.I47 D43.

Quadrupole mass spectrometry and its applications / edited by Peter H. Dawson

por Dawson, Peter H [editor] | American Institute of Physics.

Series American Vacuum Society classicsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : American Institute of Physics, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.M3 Q83.

Secondary ion mass spectrometry : A practical handbook for dept profiling and bulk impurity analysis / R. g. Wilson, f. a. stevie, c. w. magee

por Wilson, Robert G [autor] | Steve, F. A [autor] | Magee, C. W [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : J. Wiley, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.S43 W55.

Secondary ion mass spectrometry SIMS-II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA august 27-31, 1979 / editors, A. Benninghoven ... [y otros.]

por International Conference On Secondary Ion Mass Spectrometry (2 : 1979 : Stanford University) | Benninghoven, A [editor].

Series Springer series in chemical physics ; v. 9Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, 1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.M3 I57.

Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS / D. Briggs

por Briggs, David J. (David John), 1948- [autor].

Series Cambridge solid state science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD381.9S97 B75.

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