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Introduction to X-ray powder diffractometry / Ron Jenkins and Robert L. Snyder

por Jenkins, Ron, 1932- [autor] | Snyder, Robert L, 1941- [autor].

Series Chemical analysis ; v. 138Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.D5 J45.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2002.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, B. (Brent) [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Series Graduate texts in physicsEdición: 4th ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer, [2013]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2013.

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