Su búsqueda recuperó 2 resultados.

Resultados
		Characterization of epitaxial semiconductor films / Edited by Henry kressel por Kressel, Henry [editor]. Series Methods and phenomena: their applications in science and technology ; v. 2Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam, holanda : Elsevier Scientific, 1976Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.83 CH36. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Methods of surface analysis / Edited by a. w. czanderna por Czanderna, Alvin Warren, 1930- [autor]. Series Methods and phenomena, their applications in science and technology ; v. 1Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : Elsevier Scientific, 1975Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD506 C92. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

¿No encuentras lo que estás buscando?

Universidad Nacional Autónoma de México
Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)
Catálogo de la Biblioteca