Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad
Tipo de material: TextoEditor: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, 2012Descripción: xxii, 464 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470638828Tema(s): Microscopía de fuerza atómicaClasificación CDD: 620/.5 Clasificación LoC:QH212.A78 | H38Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QH212.A78 H38 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4802 | ||
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QH212.A78 H38 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4952 |
Total de reservas: 0
No hay comentarios en este titulo.