Nanoscale characterisation of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach / M. Alexe, A. Gruverman, eds.
Tipo de material: TextoSeries Nanoscience and technologyEditor: Berlin : Springer Verlag, c2004Descripción: xiii, 282 páginas : hojas (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540206620 (papel alcalino)Tema(s): Materiales nanoestructurados | NanotecnologíaClasificación LoC:TA418.9N35 | N3455Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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