Quantitative x-ray spectrometry / Ron jenkins, r. w. gould, dale gedcke
Tipo de material: TextoEditor: New York : M. Dekker, c1981Descripción: 586 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0824712668Tema(s): Espectroscopia de rayos-XClasificación LoC:QD96.X2 | J45Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | QD96.X2 J45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1236 |
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