Diffraction and imaging techniques in material science / Editors s. amelinckx, r. gevers, j. van landuyt
Tipo de material: TextoEditor: Amsterdam, holanda : North-holland, 1978Edición: 2 # rev. edDescripción: 2 volúmenesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0444851305Tema(s): Microscopía electrónica -- Congresos | Sistemas de imágenes -- Congresos | Electrones -- Difraccion -- CongresosClasificación LoC:TA417.23 | D52 1978
Contenidos:
Contenido: v.1. electron microscopy.-- v.2. imaging and diffraction techniques
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | Coleccion General | TA417.23 D52 1978 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1786 | ||
Libros | Libros Libros | Coleccion General | TA417.23 D52 1978 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1787 |
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"compris new conributions and revised and vedated papers originally presented at the international summer course on material science, antwerp, 1969, and published in 1970 under titl: modern diffraction and imaging techniques in
science"
Contenido: v.1. electron microscopy.-- v.2. imaging and diffraction techniques
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