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		Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope / R. F. Egerton por Egerton, R. F [autor]. Series The language of scienceEdición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, c1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC454.E4 E44 1996. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton por Egerton, R. F [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, c2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (6)Clasificación: QH212.E4 E44, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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