Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
Tipo de material: TextoEditor: Weinheim : Wiley-VCH, c2006Descripción: xxii, 356 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3527310525; 9783527310524Tema(s): Películas delgadas | Espectroscopia de rayos-XClasificación CDD: 530.4275 Clasificación LoC:QC176.83 | B57Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QC176.83 B57 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4224 |
Total de reservas: 0
No hay comentarios en este titulo.