Universidad Nacional Autónoma de México
Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)
Catálogo de la Biblioteca

Refinar su búsqueda

Su búsqueda recuperó 79 resultados.

Ordenar
Resultados
Reflection high-energy electron diffraction and reflection electron imaging of surfaces / Ed. by p. k. larsen and p. j. dobson

por Nato Advanced Research Workshop On Reflection High-energy Electron Diffraction And Reflection Electron Imaging Of Surfaces (1987 : Veldhoven, Netherlands) | Dobson, P. J [editor] | Larsen, P. K [editor] | Organización del Tratado del Atlántico Norte. División de Asuntos Científicos.

Series NATO ASI series. Series B, Physics ; v. 188Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC173.4S94 N37.

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Jr., Karen L. Klomparens

por Flegler, Stanley L [autor] | Heckman, John William [autor] | Klomparens, Karen L [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : W. H. Freeman, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3 F54.

Scanning microscopy

por Scanning Microscopy International.

Tipo de material: Recurso continuo Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: Chicago, Il. : Scanning Microscopy International, 1987-1996Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (1).

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications / edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang

por Zhou, Weili [editor] | Wang, Zhong Lin [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, 2007Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3 S35.

Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials / Peter j. goodhew

por Goodhew, Peter J [autor].

Series Microscopy handbooks ; 3Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Oxford University Press, 1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 G648.

Specimen preparation in materials sicence / P. j. goodhew

por Goodhew, Peter J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1972Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 G65.

Topics in electron diffraction and microscopy of materials / Peter Bernhard Hirsch, [ed.]

por Hirsch, Peter Bernhard [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Philadelphia, Pennsylvania : Institute of Physics, , 1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC793.5E628 T66.

Transmission election microscopy : Physics of image formation and microanalysis / Ludwig reimer

por Reimer, Ludwig, 1928- [autor].

Series Springer series in optical sciences ; v. 36Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 R45.

Transmission electron microscopy : Physics of image formation and microanalysis / Ludwig reimer

por Reimer, Ludwig, 1928- [autor].

Edición: 3Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 R45 1993.

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter

por Williams, David Bernard, 1949- [autor] | Carter, C. Barry [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (8)Clasificación: TA417.23 W55, ...

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter

por Williams, David Bernard, 1949- [autor] | Carter, C. Barry [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, [2009]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA417.23 W55 2009, ...

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2002.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, B. (Brent) [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Series Graduate texts in physicsEdición: 4th ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer, [2013]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2013.

Transmission electron microscopy of materials / Gareth Thomas, Michael j. goringe

por Thomas, Gareth [autor] | Goringe, M. J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 T46.

Transmission electron microscopy of minerals and rocks / Alex c. mclaren

por Mclaren, Alex C [autor] | University of Cambridge.

Series Cambridge topics in mineral physics and chemistry ; 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Cambridge : University of Cambridge, 1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QE369.M5 M35.

Ultramicroscopy : journal devoted to the technical and theoretical advancement of structural research.

Tipo de material: Recurso continuo Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: Amsterdam : North-Holland, 1975-Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (197).

Vacuum methods in electron microscopy / Wilbur c. bigelow

por Bigelow, W. C [autor].

Series Practical methods in electron microscopy, issn 1353-6494 ; v. 15Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: London : Portland, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 B54.

X-ray microanalysis in electron microscopy for biologists / A. John Morgan

por Morgan, A. John [autor] | University of Oxford | Royal Microscopical Society (Gran Bretaña).

Series Microscopy handbooks ; 5Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Oxford University Press ; oxford : Royal microscopical society, c1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH324.9X2 M67.

Páginas
¿No encuentras lo que estás buscando?

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad