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Quantitative x-ray spectrometry / Ron jenkins, r. w. gould, dale gedcke

por Jenkins, Ron, 1932- [autor] | Gould, Robert William [autor] | Gedcke, Dale, 1939- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : M. Dekker, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD96.X2 J45.

Resonant anomalous X-ray scattering : theory and applications / ed. by G. Materlik, C.J. Sparks, K. Fischer

por Materlik, G [editor] | Sparks, C. J [editor] | Fischer, K [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.S3 R47.

The Rietveld method / ed. by R.A. Young

por Young, Robert Alan, 1921- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: [Chester, England] : International Union of Crystallograhy : Oxford University Press, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD945 R54.

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologist, materials scientist, and geologists / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, Charles Fiori, Eric Lifshin

por Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor] | Newbury, Dale E [autor] | Echlin, Patrick [autor] | Joy, David C, 1943- [autor] | Fiori, Charles [autor] | Lifshin, Eric [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E9 S22, ...

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Robert Edward Lee

por Lee, Robert Edward [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Englewood cliffs, new jersey : Ptr prentice hall, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3 L44.

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [y otros.]

por Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor].

Edición: 3rd ed.Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Kluwer Academic : Plenum, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (8)Clasificación: QH212.E9 S22 2003, ...

Soft X-ray optics / Eberhard Spiller

por Spiller, Eberhard [autor] | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bellingham, Washington : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA1775 S65.

The solid state: X-ray spectroscopy.

por Jacob, L [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Wiley, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.8E4 J32.

Structure determination by x-ray crystallography / M.f.c. ladd and r.a. palmer

por Ladd, M. F. C. (Marcus Frederick Charles) [autor] | Palmer, Rex Alfred, 1936- [autor].

Edición: 3Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD945 L32 1993.

Structure determination from powder diffraction data / edited by W.I.F. David ... [y otros.]

por David, William I. F [editor].

Series IUCr monographs on crystallography ; 13Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Oxford : Oxford University Press, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QD945 S77, ...

Surface analysis by electron spectroscopy : Measurement and interpretation / Graham c. Smith

por Smith, Graham C [autor].

Series Updates in applied physics and electrical technologyTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Plenum, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA418.7 S79.

Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS / D. Briggs

por Briggs, David J. (David John), 1948- [autor].

Series Cambridge solid state science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD381.9S97 B75.

Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel

por Birkholz, Mario [autor] | Fewster, Paul F [colaborador] | Genzel, Christoph [colaborador].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim : Wiley-VCH, c2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.83 B57.

The tiger and the shark : Empirical roots of wave-particle dualism / Bruce r. wheaton ; with a foreword by Thomas s. kuhn

por Wheaton, Bruce R [autor] | Kuhn, Thomas S [prologuista] | University of Cambridge.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Cambridge : Cambridge University Press, 1983Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC476.W38 W44.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2002.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, B. (Brent) [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Series Graduate texts in physicsEdición: 4th ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer, [2013]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2013.

Two-dimensional x-ray diffraction / Bob B. He

por He, Bob B, 1954- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hoboken, New Jersey : Wiley, c2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC482.D5 H43.

X-ray and neutron structure analysis in materials science / Ed. by j. hasek

por International Conference On Advanced Methods In X-ray And Neutron Structure Analysis Of Materials (1987 : Karlovy Vary, Checoslovaquia) | Hasek, Jindrich [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Plenum, c1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD945 I57 1987.

X-ray charge densities and chemical bonding / Philip Coppens

por Coppens, Philip [autor].

Series International Union of Crystallography texts on crystallography ; 4Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: [Chester, England] : Oxford : International Union of Crystallography ; Oxford University Press, 1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD945 C59.

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