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		Microscopy of semiconducting materials, 1987 : : proceedings of the Institute of Physics conference held at Oxford University, 6-8 April, 1987 / ed. by A. G. Cullis and P. D. Augustus por Cullis, A. G [editor] \| Augustus, P. D [editor] \| Institute of Physics (Gran Bretaña). Series Institute of Physics conference series ; no. 87Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Bristol : Institute of Physics, c1987Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 M53 1987. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Microscopy of semiconducting materials 1993 : / ed. by A.G. Cullis, A.E. Staton-Bevan, and J.L. Hutchison por Cullis, A. G [editor] \| Staton-Bevan, A. E [editor] \| Hutchison, J. L [editor] \| Institute of Physics (Gran Bretaña). Series Institute of Physics conference series ; no. 134Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Philadelphia : Institute of Physics, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 M53 1993. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Microscopy research and technique. Tipo de material: Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Editor: New York, N.Y. : Wiley-Liss, 1992-Otro título: Microscopy research & technique.Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (232). Agregar al carrito (remover)
		The operation of transmission and scanning eletron microscopes / Dawn chescoe and Peter j. goodhew por Chescoe, Dawn [autor] \| Goodhew, J [autor] \| Royal Microscopical Society (Gran Bretaña). Series Microscopy handbooks ; 20Tipo de material: Texto; Formato: impreso Editor: Great Britain : Royal microscopical society, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3 C44. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton por Egerton, R. F [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, c2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (6)Clasificación: QH212.E4 E44, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Practical electron microscopy in materials science / J. W. Edington por Edington, Jeffrey William [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Herndon, Virginia : Techbooks, c1976Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD906.7E37 E45. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Principles and practice of electron microscope-operation / By a. w. agar. r. h. alderson and d. chescoe. por Agar, Alan W [autor] \| Alderson, Ronald H. Series Practical methods in electron microscopy ; v. 2Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1974Otro título: Electron microscope operation..Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 A33. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		The principles and practice of electron microscopy / Ian M. Watt por Watt, Ian M, 1926- [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Cambridge : Cambridge University Press, 1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 W37 1997. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Principles and techniques of electron microscopy : biological applications / M. A. Hayat por Hayat, M. A, 1936- [autor]. Edición: 3Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boca Raton, Florida : CRC Press, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 H38 1989. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Probe microscopy Tipo de material: Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: Amsterdam : Gordon and Breach Science, 1997-Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (2). Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Twenty-fifth anniversary meeting electron microscopy society of america, chicago, illinois, augusto 29, 30, 31 and september 1, 1967 / Edited by claude j. arceneaux por Meeting Electron Microscopy Society Of America, 25 Chicago, Illinois 1967 \| Arceneaux, Claude J. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Baton rouge, la. : Claitor's, 1967Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 M45 1967. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Thirty-Eighth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, San Francisco, California, August 4-8, 1980 / ed. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America. Meeting (38 : 1980 : San Francisco, California) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor's, 1980Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1980. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Thirty-Ninth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Atlanta, Georgia, August 10-14, 1981 / ed. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America. Meeting (39 : 1981 : Atlanta, Georgia) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor's, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1981. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Forty-Third Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Louisville, Kentucky, 5-9 August, 1985 / ed. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America. Meeting (43 : 1985 : Louisville, Kentucky) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1985. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Forty-Fourth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Albuquerque, New Mexico, 10-15 August, 1986 / ed. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America. Meeting (44 : 1986 : Albuquerque, Nuevo Mexico) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1986. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings : Forty-Seventh Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, San Antonio, Texas, 6-11 August, 1989 / ed. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America. Meeting (47 : 1989 : San Antonio, Texas) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E4 E54 1989, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Proceedings, fortieth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America : Washington, D.C., August 9-13, 1982 / edit. G. W. Bailey por Electron Microscopy Society of America (40 : 1982 : Washington, D.C.) \| Bailey, George W [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor, 1982Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E4 E54 1982, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Progress in transmission electron microscopy / Xiao-Feng Zhang, Ze Zhang, eds. por Zhang, Xiao-Feng, 1963- [editor] \| Zhang, Ze, 1953- [editor]. Series Springer series in surface sciences ; 38-39Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Beijing : Springer Verlag ; Tsinghua University, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.T7 P76, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Quantitative microbeam analysis : Proceedings of the fortieth scottish universities summer school in physics, dundee, august 1992. / Ed. by a. g. fitzgerald, b. e. storey, d. Fabián por Scottish Universities Summer School In Physics (40 : 1992 : Dundee, Escocia) \| Fitzgerald, A. G [editor] \| Storey, B. E [editor] \| Fabian, Derek J [editor] \| Scottish Universities Summer School In Physics. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Editor: Bristol : Scottish universities summer school in physics : Institute of physics, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 S36 1992. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang por Wang, Zhong Lin [autor] \| University of Cambridge. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Cambridge University Press, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 W35 1996. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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