Universidad Nacional Autónoma de México
Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)
Catálogo de la Biblioteca

Refinar su búsqueda

Su búsqueda recuperó 114 resultados.

Ordenar
Resultados
Electron beam analysis of materials / M. h. loretto

por Loretto, M. H [autor].

Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Chapman and Hall, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 L66 1994.

Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope / R. F. Egerton

por Egerton, R. F [autor].

Series The language of scienceEdición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, c1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC454.E4 E44 1996.

Electron microscopy : principles and fundamentals / ed. by S. Amelinckx ... [y otros.]

por Amelinckx, S [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Weinheim : VCH, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E547.

Electron microscopy / papers presented at the 10th International Congress on Electron Microscopy, held in Hamburg, West Germany, August, 17-24, 1982 ; ed. the Congress Organizing Committee

por International Congress on Electron Microscopy (10 : 1982 : Hamburgo, Alemania del Oeste).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Frankfurt, Main : Deutsche Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie, [1982?]-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QH236 I57 1982, ...

Electron microscopy : principles and techniques for biologists / John J. Bozzola, Lonnie D. Russell

por Bozzola, John J [autor] | Russell, Lonnie D [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Sudbury, Massachusetts : Jones and Bartlett, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 B69 1999.

Electron microscopy 1998 : Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy, Cancun, Mexico, 31 August to 4 September, 1998 = Electron microscopy 1998 : Memorias del 14to Congreso Internacional de Microscopia Electronica, Cancun, Mexico, del 31 de agosto al 4 de septiembre de 1998 / ed. by Hector A. Calderon Benavides and Miguel Jose Yacaman

por International Congress on Electron Microscopy (14 : 1998 : Cancun, Mexico) | Calderon Benavides, Hector [editor] | Yacaman, Miguel Jose [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Bristol : Institute of Physics, c1998-Otro título: Electron microscopy 1998 : Memorias del 14to Congreso Internacional de Microscopia Electronica, celebrado en Cancun, Mexico, del 31 de agosto al 4 de septiembre de 1998.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QH236 I57 1998, ...

Electron microscopy and analysis / P. j. goodhew and f. j. humphreys

por Goodhew, Peter J [autor] | Humphreys, F. J [autor].

Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: London : Taylor & Francis, 1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 G642 1988.

Electron microscopy in material science / Ed. u. valdre.

por International School Of Electron Microscopy 1970 | Valdre, Ugo.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Academic, 1971Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC373.E4 I57.

Electron microscopy in solid state physics / edited by H. Bethge and J. Heydenreich

por Bethge, Heinz [editor] | Heydenreich, Johannes [editor].

Series Materials science monographs ; 40Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : Elsevier, 1987Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD478 E5113.

Electron microscopy of interfaces in metals and alloys / C. t. forwood, and l. m. clarebrough

por Forwood, C. T [autor] | Clarebrough, L. M [autor].

Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Philadelphia : A. Hilger, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QC173.4S94 F67, ...

Electron microscopy safety handbook / Vernon C. Barber and Joseph A. Mascorro, ed.

por Barber, Vernon C [editor] | Mascorro, Joseph A [editor].

Edición: 2nd. ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Idioma: SPA Editor: California : San Francisco, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH211 E54 1994.

Electron optics and electron microscopy / P. w. hawkes

por Hawkes, P. W [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Taylor & Francis, 1972Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 H37.

Experimental high-resolution electron microscopy / John c. h. spence

por Spence, John C. H [autor].

Series Monographs on the physics and chemistry of materialsEdición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Oxford University Press, 1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 S64 1988.

Experimental high-resolution electron microscopy / John C. H. Spence

por Spence, John C. H [autor].

Series Monographs on the physics and chemistry of materialsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Oxford : Clarendon Press, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 S64.

Field emission and field ionization / Robert gomer

por Gomer, Robert [autor] | American Institute of Physics | Harvard University.

Series American Vacuum Society classicsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : American institute of physics, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC700 G65.

Fundamentals of atomic force microscopy / Ronald Reifenberger

por Reifenberger, Ronald G [autor].

Series Lessons from nanoscience : a lecture note series ; volume 4Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hackensack, New Jersey : World Scientific, 2016-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.A78 R45.

Fundamentals of high-resolution transmission electron microscopy / S. Horiuchi

por Horiuchi, S [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 F85.

Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics and chemistry / ed. by S. Amelinckx...[y otros.]

por Amelinckx, S [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Weinheim : VCH, 1997-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QH205.2 H35, ...

Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Patrick Echlin

por Echlin, Patrick [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, 2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.S3 E34, ...

High resolution and high voltage electron microscopy / Ed. by John e. Johnson jr.... [y otros.]

por Johnson, John E, 1945- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : A. R. Liss, c1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 H53.

Páginas
¿No encuentras lo que estás buscando?

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Centro de Nanociencias y Nanotecnología (CNyN)

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad