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Topics in electron diffraction and microscopy of materials / Peter Bernhard Hirsch, [ed.]

por Hirsch, Peter Bernhard [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Philadelphia, Pennsylvania : Institute of Physics, , 1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC793.5E628 T66.

Transmission election microscopy : Physics of image formation and microanalysis / Ludwig reimer

por Reimer, Ludwig, 1928- [autor].

Series Springer series in optical sciences ; v. 36Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 R45.

Transmission electron microscopy : Physics of image formation and microanalysis / Ludwig reimer

por Reimer, Ludwig, 1928- [autor].

Edición: 3Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7 R45 1993.

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter

por Williams, David Bernard, 1949- [autor] | Carter, C. Barry [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (8)Clasificación: TA417.23 W55, ...

Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter

por Williams, David Bernard, 1949- [autor] | Carter, C. Barry [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, [2009]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA417.23 W55 2009, ...

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, Brent [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2002.

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

por Fultz, B. (Brent) [autor] | Howe, James M, 1955- [autor].

Series Graduate texts in physicsEdición: 4th ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer, [2013]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 F85 2013.

Transmission electron microscopy of materials / Gareth Thomas, Michael j. goringe

por Thomas, Gareth [autor] | Goringe, M. J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : J. Wiley, c1979Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 T46.

Transmission electron microscopy of minerals and rocks / Alex c. mclaren

por Mclaren, Alex C [autor] | University of Cambridge.

Series Cambridge topics in mineral physics and chemistry ; 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Cambridge : University of Cambridge, 1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QE369.M5 M35.

Ultramicroscopy : journal devoted to the technical and theoretical advancement of structural research.

Tipo de material: Recurso continuo Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: Amsterdam : North-Holland, 1975-Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Estantería cerrada (197).

Vacuum methods in electron microscopy / Wilbur c. bigelow

por Bigelow, W. C [autor].

Series Practical methods in electron microscopy, issn 1353-6494 ; v. 15Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: London : Portland, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 B54.

X-ray microanalysis in electron microscopy for biologists / A. John Morgan

por Morgan, A. John [autor] | University of Oxford | Royal Microscopical Society (Gran Bretaña).

Series Microscopy handbooks ; 5Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: New York : Oxford University Press ; oxford : Royal microscopical society, c1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH324.9X2 M67.

X-ray optics and microanalysis, 1992 : Proceedings of the thirteenth international congress, umist, manchester, uk, 31 august-4 september 1992 / Ed. p.b. kenway ... [y otros.]

por Kenway, P.b [editor].

Series Institute of Physics conference series ; no. 130Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol Institute of physics, [england] ; philadelphia : c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 X73.

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