Resultados
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Advanced computing in electron microscopy / Earl J. Kirkland por Kirkland, Earl J [autor]. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum Press, c1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 K57.
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Adventures with a microscope / By Richard headstrom por Headstrom, Richard, 1902-1985 [autor]. Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Editor: New York : Dover, 1977Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH205 H42.
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Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy : symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A. / eds., Mehmet Sarikaya, H. Kumar Wickramasinghe, Michael Isaacson por Sarikaya, Mehmet [editor] | Wickramasinghe, H. Kumar [editor] | Isaacson, Michael Saul [editor] | Materials Research Society. Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 332Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC176.8N35 D47.
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Electron beam analysis of materials / M. h. loretto por Loretto, M. H [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria:
No es ficción Editor: London : Chapman and Hall, 1984Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 L66.
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