TY  - BOOK
AU  - Lanza,Mario
TI  - Conductive atomic force microscopy: applications in nanomaterials 
SN  - 9783527340910
AV  - QH212.A78 C65
PY  - 2017///]
CY  - Weinheim, Germany
PB  - Wiley-VCH
KW  - Microscopía de fuerza atómica
KW  - Nanoelectrónica
KW  - Materiales nanoestructurados
KW  - Microscopía
ER  -