TY  - BOOK
AU  - Echlin,Patrick
TI  - Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
SN  - 9780387857305
AV  - QH212.S3 E34
PY  - 2009///
CY  - New York
PB  - Springer Verlag
KW  - Microscopía electrónica de barrido
KW  - Microanálisis por rayos X
ER  -