TY  - BOOK
AU  - Schroder,Dieter K.
TI  - Semiconductor material and device characterization
SN  - 0471739065 (papel libre de ácido
AV  - QC611 S39 2006
U1  - 621.3815/2 22
PY  - 2006///
CY  - [Piscataway, New Jersey], Hoboken, New Jersey
PB  - IEEE, Wiley
KW  - Semiconductores
KW  - Pruebas
N1  - "Wiley-Interscience."
ER  -