TY  - BOOK
AU  - Auciello,Orlando
AU  - Krauss,Alan Robert
TI  - In situ real time characterization of thin films: edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
SN  - 0471241415 (encuadernado en tela : papel alcalino)
AV  - QC176.83 I57
U1  - 530.4/275 21
PY  - 2001///
CY  - New York
PB  - J. Wiley
KW  - Películas delgadas
N1  - "A Wiley-Interscience publication "
ER  -