TY  - BOOK
AU  - Whitehouse, David J.,
TI  - Selected papers on optical methods in surface metrology
T2  - SPIE milestone series
SN  - 0819423475 (papel alcalino)
AV  - TA418.7 S45 1996
U1  - 620/.44 20
PY  - 1996///
CY  - Bellingham, Washington
PB  - SPIE Optical Engineering
KW  - Superficies (Tecnología)
KW  - Medición
KW  - Medidas ópticas
N1  - Incluye referencias bibliograficas e indice
ER  -