TY  - BOOK
AU  - Reimer,Ludwig
TI  - Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis 
T2  - Springer series in optical sciences
SN  - 3-540-63976-4 (encuadernado en tela : papel alcalino)
AV  - QH212.S3 R45 1998
PY  - 1998///
CY  - Berlin
PB  - Springer
KW  - Microscopios electrónicos exploradores
ER  -