TY  - BOOK
AU  - Chung,Frank H.
AU  - Smith,Deane Kingsley
TI  - Industrial applications of X-ray diffraction
SN  - 0824719921
AV  - TA417.25 I53
PY  - 2000///
CY  - New York
PB  - M. Dekker
KW  - Radiografía industrial
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
ER  -