Scanned probe microscopy :  Santa Barbara, CA, 1991 / 
H. Kumar Wickramasinghe, editor 
 - x, 563 páginas :  ilustraciones ; 
 - AIP conference proceedings ;  v. 241 .
 - AIP conference proceedings  .
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indices. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0883188163 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Microscopia exploradora de sondas--Congresos<br/>Microscopía túnel de barrido--Congresos
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QH212.S33  / S36 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>502/.8/25