Proceedings :  Forty-Third Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Louisville, Kentucky, 5-9 August, 1985 / 
ed. G. W. Bailey 
 - iii, 760 páginas :  ilustraciones 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Microscopía electrónica--Congresos
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QH212.E4  / E54 1985