Proceedings :  Thirty-Eighth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, San Francisco, California, August 4-8, 1980 / 
ed. G. W. Bailey 
 - 825 páginas :  ilustraciones 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Microscopía electrónica--Congresos
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QH212.E4  / E54 1980