TY  - BOOK
AU  - McCall,James L.
AU  - Mueller,William M.
ED  - International Metallographic Society
ED  - American Society for Metals
TI  - Metallographic specimen preparation: optical and electron microscopy
SN  - 030630791X
AV  - TN690.7 M47
U1  - 669/.95/028 
PY  - 1974///]
CY  - New York
PB  - Plenum
KW  - Modelos metalograficos
KW  - Congresos
KW  - Metalografía electrónica
N1  - Procediente de una conferencia realizada por la International Metallographic Society y la American Society for Metals y celebrada en Beverly Hills, Calif., Sept. 23-24, 1973; Incluye referencias bibliograficas
ER  -