TY  - BOOK
AU  - Wang,Zhong Lin
ED  - University of Cambridge
TI  - Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis
SN  - 0521482666
AV  - TA417.23 W35 1996
U1  - 620/.44 20
PY  - 1996///
CY  - New York
PB  - Cambridge University Press
KW  - Materiales
KW  - Microscopía
KW  - Superficies (Tecnología)
KW  - Análisis
KW  - Microscopía electrónica de reflexión
N1  - Incluye referencias bibliograficas e indices
ER  -