Wang, Zhong Lin, <br/><br/>
Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / 
Zhong Lin Wang 
 - vii, 436 páginas 
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indices. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0521482666 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Materiales--Microscopía<br/>Superficies (Tecnología)--Análisis<br/>Microscopía electrónica de reflexión
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TA417.23  / W35 1996 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>620/.44