Computed electron micrographs and defect indetification / 
By a. k. head, p. humble. l. m. clarebrough... 
 - 400 páginas 
 - Defects in crystalline solids ;  7 .
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Procesamiento electrónico de datos--Tales--Defectos<br/>Procesamiento electrónico de datos--Microscopio electronico
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QD921  / C64