TY  - BOOK
AU  - Spence, John C. H.,
AU  - Zuo, J. M.,
TI  - Electron microdiffraction
SN  - 0306442620
AV  - QC176.84.O7 S64
PY  - 1992///
CY  - New York
PB  - Plenum
KW  - Películas delgadas
KW  - Propiedades ópticas
KW  - Óptica cristalográfica
KW  - Electrones
KW  - Difracción
KW  - Física del estado sólido
KW  - Química del estado sólido
ER  -