Lee, Robert Edward, <br/><br/>
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / 
Robert Edward Lee 
 - 458 páginas 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0138137595 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Microanalisis electronico explorador<br/>Microanálisis por rayos X
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>QH212.S3  / L44