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Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Dale e. newbury... [y otros.]
Tipo de material:
TextoEditor: New York : Plenum, c1986Descripción: 454 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0-306-42140-2Tema(s): Microanálisis por rayos X | Microscopios electrónicos exploradoresClasificación LoC:QH212.S3 | A38
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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