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Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad
Tipo de material:
TextoEditor: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, 2012Descripción: xxii, 464 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470638828Tema(s): Microscopía de fuerza atómicaClasificación CDD: 620/.5 Clasificación LoC:QH212.A78 | H38
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.A78 H38 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4802 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.A78 H38 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4952 |
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