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Defects in high-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices / edited by Evgeni Gusev
Tipo de material:
TextoSeries NATO science series. Series II, Mathematics, physics and chemistry ; v. 216Editor: Dordrecht : Springer, 2006Descripción: x, 492 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 140204366X (rústica); 9781402043666 (rústica); 1402043651 (encuadernado); 9781402043659 (encuadernado)Tema(s): Circuitos de arreglo de compuertas -- Congresos | Dielectricos -- Congresos | Semiconductores -- Defectos -- CongresosClasificación LoC:TK7895.G36 | N37 2005
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | TK7895.G36 N37 2005 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4512 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | TK7895.G36 N37 2005 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4869 |
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"Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-k Dielectric Nano-electronic Semiconductor Devices, held July 11-14, 2005, in St. Petersburg, Russia."--Colofón
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