Thin film analysis by X-ray scattering / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
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Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | QC176.83 B57 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4224 |
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