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Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Patrick Echlin

Por: Echlin, Patrick [autor]Tipo de material: TextoTextoEditor: New York : Springer Verlag, 2009Descripción: 330 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780387857305Tema(s): Microscopía electrónica de barrido | Microanálisis por rayos XClasificación LoC:QH212.S3 | E34
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