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Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara
Tipo de material:
TextoEditor: Chichester, England : John Wiley & Sons, c2007Descripción: xviii, 369 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470016084 (encuadernado en tela : papel alcalino); 0470016086 (encuadernado en tela : papel alcalino)Tema(s): Elipsometría | Espectroscopía | Materiales -- Propiedades ópticasClasificación CDD: 620.1/1295 Clasificación LoC:QC443 | F85
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QC443 F85 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4001 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | QC443 F85 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 3669 |
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