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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
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TextoEditor: [Piscataway, New Jersey] : Hoboken, New Jersey : IEEE ; Wiley, c2006Edición: 3rd edDescripción: xv, 779 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471739065 (papel libre de ácido; 9780471739067Tema(s): Semiconductores | Semiconductores -- PruebasClasificación CDD: 621.3815/2 Clasificación LoC:QC611 | S39 2006
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QC611 S39 2006 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4812 |
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"Wiley-Interscience."
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