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Characterization of crystal growth defects by x-ray methods : proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
Tipo de material:
TextoSeries NATO advanced study institutes series. Series B, Physics ; 63Editor: New York : Plenum Press, c1980Descripción: 589 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0306406284Tema(s): Cristales -- Defectos -- Congresos | Cristalografía por rayos X -- CongresosClasificación LoC:QD921 | N37 1979
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QD921 N37 1979 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 120 |
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