Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij
Tipo de material: TextoEditor: New York, New York : Springer Verlag, 2005Descripción: 713 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0387241477 (rústica)Tema(s): Rayos X -- Difracción -- Medición | Polvos -- Propiedades ópticas -- Medición | Cristalografía por rayos XClasificación CDD: 548/.83 Clasificación LoC:QC482.D5 | P43Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QC482.D5 P43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 3453 | ||
Libros | Libros Libros | Coleccion General | QC482.D5 P43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 3500 |
Total de reservas: 0
No hay comentarios en este titulo.