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Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination / Yoshio Waseda
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TextoSeries Springer tracts in modern physics ; v. 179Editor: Berlin : Springer Verlag, c2002Descripción: xiii, 214 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540434437 (papel libre de acido)Tema(s): Rayos X -- DispersiónClasificación CDD: 539 s | 548/.83 Clasificación LoC:QC482.S3 | W37
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QC482.S3 W37 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 3369 |
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