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Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe

TextoEditor: Berlin : Springer Verlag, c2003Edición: 2nd edDescripción: xxi, 748 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540437649 (papel alcalino)Tema(s): Materiales -- Microscopía | Microscopía electrónica de transmisión | Difractómetro de rayos XClasificación LoC:TA417.23 | F85 2002

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