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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [y otros.]

Colaborador(es): Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor]Tipo de material: TextoTextoEditor: New York : Kluwer Academic : Plenum, c2003Edición: 3rd edDescripción: xix, 689 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0306472929Tema(s): Microanálisis por rayos X | Microscopios electrónicos exploradoresClasificación LoC:QH212.E9 | S22 2003
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