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Secondary ion mass spectrometry SIMS-II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA august 27-31, 1979 / editors, A. Benninghoven ... [y otros.]
Tipo de material:
TextoSeries Springer series in chemical physics ; v. 9Editor: Berlin : Springer Verlag, 1979Descripción: 298 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540098437Tema(s): Espectrometría de masas -- CongresosClasificación LoC:QD96.M3 | I57
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | QD96.M3 I57 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 1997 |
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