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High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst, M. Ruhle, eds.

TextoIdioma: ENG Series Springer series in materials science ; 50Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Descripción: xiv, 440 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 3540418180 (papel alcalino)Tema(s): Materiales -- Microscopía | Microscopía electrónica de transmisiónClasificación CDD: 620.1/1299 Clasificación LoC:TA417.23 | H53

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